Оновлено он-лайн бази WIPO з міжнародних реєстрацій

Всесвітня організація інтелектуальної власності (ВОІВ) cвоїм циркуляром С.Н79 від 09.02.2011 повідомляє, що запущено її Міжнародним бюро нового інтерфейсу для електронного поновлення міжнародних промислових зразків та змінено базу ЄПВ.

Оновлено он-лайн бази WIPO з міжнародних реєстрацій 

Електронний інтерфейс ВОІВ для поновлення міжнародних промислових зразків

Всесвітня організація інтелектуальної власності (ВОІВ) cвоїм циркуляром С.Н79 від 09.02.2011 повідомляє, що запущено її Міжнародним бюро нового інтерфейсу для електронного поновлення міжнародних промислових зразків.

Зазначений електронний інтерфейс є он-лайн сервісом для її користувачів. Він має на меті надання можливості повного та часткового поновлення міжнародних промислових зразків, складання рахунку та сплати його з використанням електронної системи передачі інформації. Це дозволяє користувачам перегляд відтворень промислових зразків, котрі вміщено в відомостях про реєстраці (яка буде поновлюватися), а також перегляд будь-якої інформації, стосується неї.

Читайте такожІндикатор ринку та технологій. Чому в Україні картопля дешевша, ніж в РосіїБізнес-тиждень: чи домовиться Україна з кредиторами та скільки тепер коштує золотоСитуація просто вирівнюється. Чому вартість оренди житла в Києві перестала зростати

Доступ до зазначеного інтерфейсу надається за адресою: 
https://webaccess.wipo.int/erenewal_dm/erenewal.jsp.

Європейські документи А і В

Користувачі, які регулярно відвідують патентно-інформаційні служби для фахівців на веб-сайті Європейського патентного відомства (ЄПВ), мають можливість ознайомитися із нещодавно розміщеною новою базою даних під назвою "European Patent Documents" ("Європейські патентні документи"), що розташована поряд із базами даних "European Patent Applications" ("Заявки на європейські патенти") і "Granted European Patents" ("Видані європейські патенти"). Нова база даних містить інформацію стосовно заявок на одержання європейських патентів і виданих патентів за останні чотири тижні у єдиній "об’єднаній" базі даних.

У новій базі даних можна виконувати пошук за 48 критеріями, що є значно більшим показником, ніж в окремих колекціях документів ЕР-А і ЕР-В, які надають тільки 33 і 31 критерій для пошуку відповідно. Є можливість виконання пошуку за описом (повним текстом), назвами і рефератами оригінальними мовами, а також за формулою виданого патенту трьома офіційними мовами. Новий критерій – "First Filing Date" ("Дата першого подання") - включає дату подання заявки, або – якщо заявляється пріоритет – дату більш раннього пріоритету. Також є змога виконувати пошук виділених і первісних (з більш раннім пріоритетом) заявок.

* Нова база даних замінила собою дві окремі бази даних, що містили заявки на одержання європейських патентів і видані європейські патенти за останні чотири тижні. Обслуговування цих баз даних було призупинено в кінці 2010 року.

** ЄПВ планує поступово розширювати зміст нової бази даних для включення повної колекції європейських патентних документів з можливістю пошуку.